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扫描力显微镜(SFM)
扫描力显微镜SFM是在探针与表面间存在一种力,探针装在一个短的悬臂的末端,通过感觉短臂的偏斜而侧量力的大小。在理想情况下,能测出10-13_10-4 N范围的力,悬臂的偏斜可用许多种方法测出。最初Binn谊等人用电子隧道方法测,后来又有用光干涉仪、光偏斜和电容变化等方法测量。与STM相似,SFM也有多种成像方式,如恒力成像,恒高成像,恒力梯度式,跳跃工作式等。SFM可测度力一距离的关系,它可测量各种力;如前所述,包括库伦力,静电力,Van der Waals力。若用磁性探针,还可制成磁力显微镜,测量磁力与距离的关系。一般说来,SFM是通过悬臂在垂直方向上的偏斜针尖与表面的作用。通过悬臂的扭曲程度还可测出针尖与标本间的摩擦力,这种成像方式称为摩擦力成像(frictional forceimaging) > 90年代以来,对于SFM的针尖制做与处理,衬底材料的选择等方面都有很大进展。
SFM的发明为生物学研究又增添了一种有力的工具。
北京汗盟紫星仪器仪表有限公司(www.bjhanmeng.com)
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